Проблемы с шумами при тестировании АЦП 1273пв2ат
Ср июл 18, 2018 14:11:18
Всем привет!
передо мной стоит цель проверить точностные параметры АЦП 1273пв2ат (ИНЛ,ДНЛ в частности),
я это делаю следующим образом: входной аналоговый сигнал подаю с модуля NI PXI-4461(24-битный ЦАП), цифровая часть(тактирование и сбор выходных цифровых кодов) осуществляется с помощью fpgaшки - модуля NI PXI 7841R,
питание так же с модуля pxi...аналоговым сигналом я прохожу всю шкалу АЦП(0...5В) с шагом равным 1/8 от МЗР АЦП и накапливаю гистограмму выходных кодов(метод гистограмм для получения точностных параметров АЦП), в результате у меня что на картинке статистике, что на графике ДНЛ получаются огромные пики...
есть подозрения что проблемы в модуле PXI, с которого идет подача сигнала(шумы), потому что ТОТ ЖЕ самый образец с той же оснасткой(см. схему подключения) но при подаче сигнала с другого источника аналогово сигнала(22битный ЦАП) таких пиков не выдает и все параметры в норме...
но с другой стороны ЦАПом из модуля pxi-4461 были испытаны и другие микросхемы АЦП(например AD974arsz), и там все было в норме...
кто может подсказать, в чем может быть причина таких плохих значений параметров данного АЦП(ДНЛ,ИНЛ)???
передо мной стоит цель проверить точностные параметры АЦП 1273пв2ат (ИНЛ,ДНЛ в частности),
я это делаю следующим образом: входной аналоговый сигнал подаю с модуля NI PXI-4461(24-битный ЦАП), цифровая часть(тактирование и сбор выходных цифровых кодов) осуществляется с помощью fpgaшки - модуля NI PXI 7841R,
питание так же с модуля pxi...аналоговым сигналом я прохожу всю шкалу АЦП(0...5В) с шагом равным 1/8 от МЗР АЦП и накапливаю гистограмму выходных кодов(метод гистограмм для получения точностных параметров АЦП), в результате у меня что на картинке статистике, что на графике ДНЛ получаются огромные пики...
есть подозрения что проблемы в модуле PXI, с которого идет подача сигнала(шумы), потому что ТОТ ЖЕ самый образец с той же оснасткой(см. схему подключения) но при подаче сигнала с другого источника аналогово сигнала(22битный ЦАП) таких пиков не выдает и все параметры в норме...
но с другой стороны ЦАПом из модуля pxi-4461 были испытаны и другие микросхемы АЦП(например AD974arsz), и там все было в норме...
кто может подсказать, в чем может быть причина таких плохих значений параметров данного АЦП(ДНЛ,ИНЛ)???
Re: Проблемы с шумами при тестировании АЦП 1273пв2ат
Чт июл 19, 2018 08:56:35
Не показаны выходные цепи ЦАП и соединение земель.
Скорее всего дело в фильтрации тестового сигнала или наводкам по земле, так как вход АЦП небалансный.
Скорее всего дело в фильтрации тестового сигнала или наводкам по земле, так как вход АЦП небалансный.
Re: Проблемы с шумами при тестировании АЦП 1273пв2ат
Чт июл 19, 2018 11:46:25
GARMIN, спасибо за ответ! 
выход ЦАПа соединен со входом АЦП через коаксиальный кабель и sma разъем, находящийся на печатной плате, земля у них общая.
в фильтрации тестового сигнала я думаю проблем быть не должно, ведь этот же фильтр, но с другим ЦАПом отработал отлично..
в чем может быть проблема?
выход ЦАПа соединен со входом АЦП через коаксиальный кабель и sma разъем, находящийся на печатной плате, земля у них общая.
в фильтрации тестового сигнала я думаю проблем быть не должно, ведь этот же фильтр, но с другим ЦАПом отработал отлично..
в чем может быть проблема?
- Вложения
-
- GLEorvmnT4s.jpg
- фильтр входного сигнала
- (176.12 KiB) Скачиваний: 245
Re: Проблемы с шумами при тестировании АЦП 1273пв2ат
Пт июл 20, 2018 09:25:26
Ну, я бы, например, оторвал землю Vref, входа и фильтра, соединил их отдельным проводом и подключил к земле через низкоомный резистор 10-20 Ом. Помех от цифры на плате должно быть меньше.
Ну ещё фильтруйте питание АЦП.
А вообще, проверьте повторяемость измерения самого АЦП. Повесьте конденсатор между входами микрофарад на сто и подайте постоянное напряжение на вход. Сравните результаты 100-1000 измерений. Может проблема внутри чипа?
Ну ещё фильтруйте питание АЦП.
А вообще, проверьте повторяемость измерения самого АЦП. Повесьте конденсатор между входами микрофарад на сто и подайте постоянное напряжение на вход. Сравните результаты 100-1000 измерений. Может проблема внутри чипа?