Ср сен 02, 2020 12:32:53
Ср сен 02, 2020 12:58:27
Кольцевой буфер в ЕЕПРОМ всего делов то.
Ср сен 02, 2020 16:01:58
Ср сен 02, 2020 18:03:24
Ср сен 02, 2020 22:16:42
Ср сен 02, 2020 22:45:03
Ср сен 02, 2020 23:04:22
Ср сен 02, 2020 23:51:32
Интересно... а кто реально проводил эксперименты по износу AVR ?
Действительно ли там ограничение на 100.000 циклов ?
Чт сен 03, 2020 00:14:45
Чт сен 03, 2020 07:09:28
Чт сен 03, 2020 07:12:18
Чт сен 03, 2020 11:09:27
Чт сен 03, 2020 11:25:11
Чт сен 03, 2020 11:40:46
Чт сен 03, 2020 14:41:05
Ресурс записи
Изменение заряда сопряжено с накоплением необратимых изменений в структуре и потому количество записей для ячейки флеш-памяти ограничено. Типичные количества циклов стирания-записи составляют от десятков и сотен тысяч до тысячи или менее, в зависимости от типа памяти и технологического процесса. Гарантированный ресурс значительно более низок при хранении нескольких бит в ячейке (MLC и TLC) и при использовании техпроцессов класса «30 нм» и более современных.
Одна из причин деградации — невозможность индивидуально контролировать заряд плавающего затвора в каждой ячейке. Дело в том, что запись и стирание производятся над множеством ячеек одновременно — это неотъемлемое свойство технологии флеш-памяти. Автомат записи контролирует достаточность инжекции заряда по референсной ячейке или по средней величине. Постепенно заряд отдельных ячеек рассогласовывается и в некоторый момент выходит за допустимые границы, которые может скомпенсировать инжекцией автомат записи и воспринять устройство чтения. Понятно, что на ресурс влияет степень идентичности ячеек. Одно из следствий этого — с уменьшением топологических норм полупроводниковой технологии создавать идентичные элементы все труднее, поэтому вопрос ресурса записи становится все острее.
Другая причина — взаимная диффузия атомов изолирующих и проводящих областей полупроводниковой структуры, ускоренная градиентом электрического поля в области кармана и периодическими электрическими пробоями изолятора при записи и стирании. Это приводит к размыванию границ и ухудшению качества изолятора, уменьшению времени хранения заряда.
Чт сен 03, 2020 14:51:16
Чт сен 03, 2020 15:09:42
Чт сен 03, 2020 15:59:24
Чт сен 03, 2020 17:33:16
NStorm писал(а):По факту что-то больше 3 млн циклов при 25*С.
Чт сен 03, 2020 17:52:18